Mời tham quan bên trong phòng thí nghiệm 8 bước kiểm tra Galaxy Note7 của Samsung
Đây chính là cách mà Samsung kiểm tra độ an toàn của mỗi viên pin trong chiếc Galaxy Note7 đã được thu hồi.
"Thảm họa" mang tên Galaxy Note7 đã giáng một đòn đau vào thương hiệu điện thoại số 1 thế giới Samsung. Chính vì vậy mà họ đã quyết tâm tìm ra nguồn gốc dẫn tới sự việc này bằng cách giám định từng chiếc phablet màn hình lớn kia trong những phòng thí nghiệm của mình. Chúng ta hãy cùng dạo quanh một vòng khu vực giám định của họ nhé:
Cơ sở giám định pin của Samsung tại Gumi, Hàn Quốc. Tại đây họ sẽ thực hiện quy trình 8 bước để giám định độ an toàn của pin Galaxy Note 7.
Các bài thử nghiệm về pin để xem xét về ảnh hưởng của việc sạc không dây với Note 7.
Thử nghiệm sạc pin qua cổng USB type C tại phòng giám định của Samsung
Không chỉ đánh giá dựa trên những tác động của phần cứng pin, quy trình nghiêm ngặt tại đây còn tính toán vai trò của những thuật toán bên trong máy nữa.
Nhằm rút ra nhận định đúng đắn nhất về nguyên nhân của vấn đề pin Note 7, đây lại tiếp tục là hàng loạt những bài thử nghiệm về phần mềm.
Là 1 phần trong 8 bước kiểm tra an toàn pin, một chiếc Note 7 đang trong bài thử độ bền.
Đâm thủng pin cũng là một phần quan trọng trong phần đánh giá sức chịu đựng của pin máy.
Đây là phần kiểm tra sức chịu lực của pin.
Bộ phận này chịu trách nghiệm theo dõi “vòng đời” của viên pin trong Galaxy Note 7.
Chiếc máy có tác dụng đánh giá ngoại hình để nhận biết được viên pin này có gặp lỗi khi gia công hay không.
Một “chặng” nữa của quy trình 8 bước là chiếc máy X quang này. Nó sẽ giúp nhận dạng được điểm bất thường ở bên trong viên pin mà ta không thể thấy bằng mắt thường.
Máy đo TVOC có tác dụng đảm bảo cho viên pin không bị rò rỉ các thành phần của viên pin, bao gồm các chất hữu cơ dễ bay hơi.
Bóc tách từng lớp viên pin để xem xét từng thành phần của nó giờ là đã 1 trong 8 bước đảm bảo an toàn pin của Samsung. Quá trình này đánh giá chất lượng chung của viên pin, bao gồm cả những mối hàn giữa các lớp và tấm màng cách ly của nó.
Quy trình thử nghiệm OCV, như hình trên, kiểm tra sự thay đổi về điện áp xuyên suốt quá trình sản xuất của từng bộ phận, từ các thành phần linh kiện cho tới tổng thể chiếc điện thoại hoàn chỉnh.
Samsung đã phát hiện ra rằng cả hai công ty cung cấp pin cho chiếc Galaxy Note 7 đều gặp vấn đề.
Samsung giải thích vấn đề này bằng cách phân tích các thành phần bên trong của viên pin Lithium-ion trông như thế nào.
Tiếp theo, gã khổng lồ Hàn Quốc này đã trình bày về việc tìm ra sự thiếu sót trong khâu thiết kế của pin A, viên pin đã khiến họ phải thu hồi Galaxy Note 7 lần đầu tiên.
Không may thay, viên pin B cũng gặp phải lỗi sản xuất tương tự. Khi nhà sản xuất pin đến từ Trung Quốc tăng cường số lượng để đáp ứng được nhu cầu của Samsung, họ đã gặp phải lỗi khiến viên pin của Galaxy Note 7 bị đoản mạch.
Theo CNET
NỔI BẬT TRANG CHỦ
Google: Giải được bài toán 10 triệu tỷ tỷ năm chỉ trong 5 phút, chip lượng tử mới là bằng chứng về đa vũ trụ
Điều đáng ngạc nhiên hơn cả là nhiều người trên cộng đồng mạng thế giới lại đang đồng tình với kết luận của Google.
Gần 2025 rồi mà vẫn dùng USB để lưu công việc thì quả là lỗi thời